SF6氣體是SF6斷路器重要的調(diào)試項(xiàng)目，也是SF6斷路器正常運(yùn)行的關(guān)鍵。對于運(yùn)行中的設(shè)備，一般利用密度繼電器對SF6氣體的泄漏實(shí)時(shí)監(jiān)測， 一旦壓力值迅速下降或出現(xiàn)報(bào)警信號(hào)，則需要進(jìn)一步的對漏氣部位進(jìn)行查找，以求在短的時(shí)間內(nèi)確定漏氣部位，為處理缺陷爭取時(shí)間。下面介紹一下常用的檢漏方法。

定性檢漏

定性檢漏在現(xiàn)場較實(shí)用，具體包括簡易定性檢漏、壓力下降法、分割定位法和局部蓄積法。

(1)簡易定性法。使用一般的檢漏儀，對所有組裝的密封面、管道連接處及其他懷疑的地方進(jìn)行檢測。方法簡單，能查找較明顯的局部泄漏。

(2)壓力下降法。用精密壓力表測量SF6氣體壓力，隔數(shù)天或數(shù)十天進(jìn)行復(fù)測，結(jié)合溫度換算或進(jìn)行橫向比較來判斷發(fā)生的壓力下降。

(3)分割定位法。適用于三相SF6氣路連通的斷路器，把SF6氣體系統(tǒng)分割成幾部分后再進(jìn)行檢漏，可減少盲目性。

(4)局部蓄積法，用塑料布將測量部位包扎，經(jīng)過數(shù)小時(shí)后，再用檢漏儀測量塑料布內(nèi)是否有泄漏的SF6氣體，它是目前較常采用的定性檢漏方法。

定量檢漏

定量檢漏法是用塑料袋將被測開關(guān)部件或整臺(tái)開關(guān)罩起來，經(jīng)過時(shí)間（例如數(shù)十小時(shí)）后，測量塑料袋內(nèi)的SF6氣體濃度，再根據(jù)塑料袋內(nèi)體積和包圍時(shí)間等參數(shù)來計(jì)算漏氣率。

定量檢漏有掛瓶檢漏法和局部包扎法，應(yīng)在充氣24h后進(jìn)行。可采用LDD2000型檢漏儀作為定量測量儀，使用方便，比較理想。定量測量的判斷標(biāo)準(zhǔn)為年漏氣率不大于1%。

運(yùn)行實(shí)踐證明，SF6斷路器易漏部位主要有：各檢測口、焊縫、充氣嘴、法蘭結(jié)合面、壓力表連接管、密封底座等。而GIS設(shè)備的常見漏氣點(diǎn)有：焊縫、充氣嘴、法蘭結(jié)合面、壓力表。

光學(xué)成像檢漏

光學(xué)成像法是近年來興起的一項(xiàng)新技術(shù)，比較成熟的方法有激光成像法和紅外成像法，二者都是利用SF6氣體的紅外吸收特性使泄漏氣體在視域內(nèi)清晰可見，能在設(shè)備帶電的情況下進(jìn)行檢測。

紅外成像法利用SF6氣體特定的紅外吸收光譜，能使泄漏氣體清晰可見，進(jìn)而可以在設(shè)備運(yùn)行的狀況下進(jìn)行檢漏，是一種較理想的檢漏手段。但在實(shí)際情況中由于GIS設(shè)備安裝特點(diǎn)，導(dǎo)致光學(xué)成像法也存在的缺點(diǎn)。例如由于室內(nèi)GIS設(shè)備安裝較為緊湊，對內(nèi)部的檢漏較為困難。對于室外GIS設(shè)備，由于安裝高度較高，也使得對設(shè)備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難，加上室外風(fēng)速、溫濕度等環(huán)境因素的影響，一些存在輕微滲漏的GIS設(shè)備就更難以用光學(xué)成像法檢測出來。

  出現(xiàn)漏氣處理方式，其一，更換配件，更換密封、盆子、螺栓。第二利用青島宇科公司專業(yè)SF6修復(fù)產(chǎn)品進(jìn)行在線帶壓修復(fù)，可以在盆子開裂、密封損壞、殼體裂紋砂眼等情況下，直接進(jìn)行修復(fù)，宇科公司EGG修復(fù)系列為雙組份配比使用材料，具有優(yōu)良的粘接力及高分子特有的退讓性，可以適應(yīng)大范圍溫差變化，修復(fù)后可以漏氣點(diǎn)形成致密結(jié)實(shí)的修復(fù)層使用壽命可達(dá)10年，是一種成熟的修復(fù)技術(shù)?，F(xiàn)已廣泛用在GIS、GIL，電流互感器、斷路器等。